[ 특징 ]
- UV 강도,광량의 절대값을 측정하는 기준 측정기
- UV 측정용 Sensor에 Silion Photo Diode를 사용하기 있기 때문에
  정밀도가 높고 재현성이 우수함
 
 UV 측정 TYPE
 UV 강도측정(mW/ ㎠ )
 측정 파장  365nm
 측정 범위  강도 SENS.HI 0.1~999.9mW/㎠
        SENS.LO 1 ~ 9999mW/㎠
 광량 SENS.HI 0.1~9999.9mJ/㎠
        SNES.LO 1~99999mW/㎠
 측정정밀도  ±5(%rdg + 1dgt)
 수광부 직경  ø1mm
 정격입력/소비전력  006P type,9V dry battery 0.07W
 중량  Approx.0.3Kg
 
 
 
 
 
이 석영제 노광 테스트 마스크는 레지스터재 료 및 두께에 의한 최적 노광 시간을 아주 간단하게 결정 케 하는 제품입니다. 또, 다른 선폭의 복수
미세 라인도 제작되고 있어 해상도 체크도 동시에 가능합니다.

평가용 테스트 마스크(Test Tablet)
- 재 료 : 석영
- 사이즈 : 5 인치, 6 인치, 7 인치
- 패 턴 : A열, B열 각각 15개의 패턴을 제작. 각 패턴에는 최소 1.0μm,
            최대 50.0μm폭의 15의 미세 라인을 제작.
 

[ A열 ]
각 패턴중의 라인은 투명하고 각 라인은 1.0%~60.0%의 자외선 투과율을 가진다. 배경 톤은 불투명.

[ B열 ]
각 패턴중의 배경 톤은 투명하고 1.0%~60.0%의 자외선 투과율을 가진다. 미세 라인은 불투명. 이상 과 같이 포지티브 및 네가티브 레지스터 양쪽 모두에 대응 가능합니다.

[ 사용법 ]
최초, 본 마스크를 사용해 적당한 노광 시간에 wafer에 자외선 조사한 후 wafer를 현상 해, 예를 들면30%의 투과부에서 최적 노광을 얻을 수 있었다고 판 단되었을 경우,「그 노광 시간×0.3(=30%)」이 최적 노광 시간으로 결정 할 수 있습니다.

 
 
 
 

- 휴대용의 분광계 사용
- X, Y스테이지에 Optical Probe 및 노트북에 MPO 소프트웨어 를 이용. - 표면의 반사, 재료, 액체 농도와 재료 검사, 직물색 반사를 실 시간으로
  분석
- Probe는 여러가지 측정 스포트 사이즈로 6 인치까지 작업 가능
  (Option 4 ~12 인치 X,Y스테이지)
- 구 성 : X,Y Stage,Note PC,Sensor,Software(PC 내장)

 
 Scanning range
 365 nm to 850 nm, standard
 Optional range  200-575, 250-800, 530-1000, 200-450, the combination of the range
 can add up the range from 200 nm to 1000 nm.
 Measurement Range  10nm ~ 50 μm
 Spectrum resolution  2nm
 Precision  0.1nm
 Measuring speed  2 seconds
 Film Type  Polyimide/ITO,SiO2,Oxide, Photoresist,Nitride,
 CIE chromaticity,Cell Gap,Color Filter Thickness
 Layer Nos  Max.4 Layers
 Measuring spot size  1 to 3 mm diameter
 
 
 

[ 주요용도 ]
- CRT, LED, EL, LCD, Backlight등의 휘도 측정
- 도로 조명, 터널 조명의 측정
- 철도 관계의 표지 측정
- 자동차 도로, 공항 관계의 표지 측정
- 광원, 옥외 간판 등의 측정
- 각종 조명 시설, 기구 발광부의 측정
- 각종 연구, 측정 실험
- 각종 계기의 밝기의 측정

 
[ 주요사양 ]
 측정각
 1°
 측정거리  1014 mm ~ ∞
 광학계  f = 85 mm F 2.8
 Finder시야  9°(시도조절장치 부착)
 측정휘도범위  FAST : 0.01 ~ 999900 cd/㎡ , SLOW:0.01 ~ 499900 cd/㎡
 재현성  10.00cd/㎡이상 : 측정값의 ±0.2%±1disit,
 0.01 ~ 9.99cd/㎡ : 측정값의 ±0.2%±2disit(A광원)
 측정기능  휘도순간값측정, 휘도Peak값 측정, 휘도비율(%)측정
 전원  9V Battery 1개
 크기  79(폭) X 208(높이) X 150(길이)mm
 중량  850g(전지별도)
 
 
 

[ 주요특징 ]
- 삼자극치 필터 방식 채용으로 휘도, 색도, 색온도, 색차 등 표시가 가능 - 측정각 절환식 (0.1˚ / 0.2˚ / 1˚ / 2˚)에 의해 1대로 광범위한 측정이
   가능
- 인터페이스는 RS-232C 또는 GP-IB (구입시 선택)을 내장하고 있어,
   PC와 통신을 할 수 있고, 자동 측정도 가능
- 광전자증배관의 채용으로 저휘도 측정이 가능
- 액정 응답속도 등의 측정용으로, 아나로그 응답속도를 고속화한 특주품
   도 있습니다.
    (응답 속도 : 0.08ms ~ 8ms → 측정 레인지에 따라 달라짐)

 
[ 주요사양 ]
 측정각
 2°/1°/0.2°/0.1°/절환식
 표시범위  0.0001(2°)~1,200,000(0.1°)cd/㎡
 측정내용  휘도, 색도, 삼자극치, 색온도, 색차
 휘도  휘도:±4% of rdg
 색도:±0.005(A광원), 0.01(O-55, 0.03(R-61)
 전원  AC 아답터50/60Hz 40W이내
 외형 사이즈  약 355(L)×130(W)×169(H)
 중량  약4kg(본체)
 주요 부속품  Attachment lens、Mesh filter、표준백색판、삼각 미동대, Fiber  Probe,ITV 아답터,통신 소프트
 
 
 
수지나 유리등의 내부의 변형·성형 얼룩짐등을 목시로 관찰할 수 있는 Compact 한 편광식의 일종의 제품 내부 변형확인을 위한 검사기입니다.

[ 용도 ]
할로겐 전구 등 소형 제품의 검사, 렌즈·프리즘등의 소형 부품의 검사 등
 
[ 특징 ]
본 장치는 편광이나 파장의 위상차이 등 광학 특성을 이용하고 유리·플라스틱 제품의 Strain의 유무·분포 상태의 관찰, 응력 방향의 해석, Strain의 정량 측 정등을 고정밀도에 실시할 수 있습니다.
품질관리나 연구 개발등의 용도에 대응하기 위해 직교 니콜법, 평행 니콜법, 예민색법, 엔편광법,
세나르몬법 등 많 은 검사법을 준비하고 있습니다.

LSM-2002는 원편광법에 따르는 변형검사기로서 투명한 유리 및 플라스틱 소재의 관찰물을 샘플 스테이지면내에서 어느 방향으로 회전시켜도, 명암의 모 양으로 나타나는 변형의 분포 패턴은 바뀌지 않습니다. 간단하게 운반을 할 수 있는 소형·경량 타입이므로 할로겐 전구나 렌즈·프리즘 등 비교적 작은 부품 ·제품의 검사를 대상으로 하고 있습니다. 관찰물을 손가락으로 집어 간단하게 검사할 수 있어 또, 애널라이저가 경사하고 있으므로 의자에 앉아 연속 사용할 수도 있습니다.
 
[ 주요사양 ]
Specification
LSM-2002
 Appearance & Dimension  W180 X D245 X H264mm
 Weight  3.0Kg
 Inspection Method  Circulary Polarized Light Method
 Effective Dimension of
 Sample Stage
 W120 X D80mm
 Light Source  Fluorescent Lamp 4W,Day light Color
 Power Source  AC100V